SIMAT模擬器是一個模塊化的圖像投影系統用于模擬在光視距范圍內兩個或者多個可變強度，可變角尺寸，可變光譜，在均勻背景下的的動態目標。其可用于模擬動態空間或者空中目標（天體，飛機，直升飛機等）作為成像探測器對這些目標的監視。SIMAT模擬器的基本配置用于模擬紅外波段的范圍但是可以升級為模擬紅外波段加紫外及可見光波段。寬視場到120o 可以被達到基于精致細密運動平臺用于測試過程中的單元旋轉。可選的SIMAT模擬器用于模擬紅外以及UV/可見光波段基于采用帶寬反射光學原件的圖像投影系統。SIMAT是完全計算機化控制的用于模擬復雜情況（目標軌跡，角尺寸，速度，輻射強度等）的目標模擬器。明策光電測試系統，提升鐘表制造業走時精確度。上海光電測試系統作用

FAPA是一個準通用系統，用于擴展控制/測試紅外FPA傳感器，專門為進行此類圖像傳感器開發研究的科學機構使用而優化。它主要用于測試完整的紅外FPA傳感器(帶有讀出電子器件的探測器陣列)和熱成像儀中心，但也可以測量原始紅外FPA傳感器的一些關鍵參數(與ROIC集成之前)。此外，FAPA還可以選擇用于測試完整的熱成像儀。這樣，FAPA就可以成為評估紅外FPA傳感器生命周期中任何階段的寶貴工具:原始紅外FPA紅外傳感器、紅外FPA傳感器、熱成像儀**、熱成像儀。

FAPA是一個模塊化系統，由一系列模塊組成，可以配置為創建一系列不同的子系統，用于測量不同參數組。然而，FAPA的所有模塊基本上可以分為三類(塊):1.放射性測量工具，2.傳感器控制/圖像處理工具，3.圖像采集/計算工具。 上海光電測試系統供應光電測量，保障樂器制造音準與品質。

Ls-dAL光源是多通道標準光源，有四種工作模式，具有的動態范圍、可連續調節光強度（能夠模擬超亮的白天和黑夜）、計算機化設計，可用于測試可見光-短波紅外相機（彩色/單色CCD / CMOS / ICCD / EBCCD相機、短波紅外相機），用于中/遠程監測應用。

工作模式①鹵素燈，色溫2856K，模擬夜晚和典型的白天②白光LED，色溫超過5000K，模擬極亮的白天③鎬強度紫外LED，檢測抗紫外線的能力

總量度范圍10mcd/m2-10kcd/m2–D（白天版本）10μcd/m2-10kcd/m2–DN（白天/夜晚版本）（注：亮度范圍可以擴展）

TCB面源黑體用于典型溫度范圍為0℃至100℃的小型50x50mm發射面的TCB-2D黑體被用作測試熱像儀的DT/MS系統的模塊。具有更大發射面和其他溫度范圍的黑體都可以作為其他各種應用的單獨模塊提供。Inframet可以提供高達500x500mm的發射面的TCB黑體（型號TCB-2oD）。

但是，應該注意的是，典型的小黑體TCB-2D/TCB-4D黑體與TCB-12D/TCB-2oD之間存在很大差異。后者的黑體要大得多，需要更大的功率，升溫更慢，更昂貴。因此建議您選擇自己合適的發射面尺寸即可。 光電技術，應用于教育領域，提升實驗教學質量。

由于各種原因，生成高分辨率融合圖像較為困難，其中一個原因是需要校正不同成像傳感器產生的圖像的畸變和放大程度的差異，優化圖像校正算法需要對所有成像傳感器均可見的已知幾何形狀的特定目標進行研究。Inframet提供支持雙通道融合圖像的棋盤式FUT靶標，能夠發射熱輻射(靶標實際上是一個調節均勻溫度的大面積輻射源)，也能反射可見光/近紅外范圍內的入射輻射。因此，無論是在中波紅外/長波紅外范圍內工作的熱像儀，還是在可見光/近紅外范圍內工作的夜視儀/相機，都可以看到相同圖像。該靶標可用于確定熱成像相對于可見光圖像的空間位移二維圖。光電測試系統，助力LED照明品質提升。上海光電測試系統供應

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靶標是用于測試光電成像系統時創建參考圖像的模塊。Inframet提供的靶標可分為兩類:1)無源靶標，2)有源靶標。無源靶標需要由黑體或標定光源產生均勻光束照射，生成參考圖像模式的圖像。這些靶標通常是大型測試系統位于平行光管焦平面的小模塊。無源靶標的工作不需要電力供應。這些標準的小尺寸靶標作為Inframet制造的大型模塊化測試系統(如DT,TAIM,TVT,MS)的一部分。有源靶標是通過其自身的熱輻射或由人造光源發出的反射光創建參考圖案。這些目標通常是大型的單獨模塊（尺寸從500mm到3000mm），需要電才能正常工作。被測光電成像儀可直接看到有源靶標。這些靶標用于測試融合成像儀的融合算法或作為熱像儀/VIS-NIR相機分辨率靶標的流行解決方案。FUT系列靶標是有源靶標，通常用于測試融合成像系統或熱像儀。經典熱圖像與可見光圖像的融合成像系統擁有更強的監視能力。融合系統通常使用一個多傳感器成像系統，由一個熱像儀和一個可見光相機(或夜視設備和可見光相機)組成，圖像的融合可以采用光學方法或數字圖像處理方法。上海光電測試系統作用